Institut für Metallurgie
Arbeitsgruppe Metallurgische Prozesstechnik
Sekundärionen-Massenspektrometer Cameca IMS 3f & 5f (SIMS)
Siehe auch Laborgeräte der TUC
| Gerätebezeichnung | Kurzform | Zweck | Gebäudenr. | Verantwortlich | Tel,Email |
|---|---|---|---|---|---|
| Sekundärionen-Massenspektrometer Cameca IMS 5f Baujahr: 1993 |
SIMS 5f | isotopenselektive Tiefenprofilanalyse | 0500 | Dr. Peter Fielitz | 2634 peter.fielitz@tu-clausthal.de |
| Sekundärionen-Massenspektrometer Cameca IMS 3f Baujahr: 1979 |
SIMS 3f | isotopenselektive Tiefenprofilanalyse, qualitative Spurenanalyse | 0500 | Dr. Lars Dörrer | 2009 lars.doerrer@tu-clausthal.de |
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